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平板探测仪器的原理及性能分析

※发布时间:2021-12-30 14:21:26   ※发布作者:佚名   ※出自何处: 
 

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平板探测仪器,从能量转换方式上看,平板探测仪器可分为两种类型:间接转换平板探测仪器和直接转换平板探测仪器
1. 间接转换平板探测仪器
间接FPD的结构主要由闪烁体或磷光层、具有光电二极管效应的非晶硅(a-Si)和TFT阵列组成。
2. 直接转换平板探测仪器
直接转换平板探测仪器主要由非晶硒(a-Se)层和薄膜半导体阵列(TFT)组成。
3.不同平板探测仪器的性能分析
平板探测仪器成像质量一般是通过这两个性能指标来评价:空间分辨率以及量子探测效率。量子探测效率决定了平板探测仪器对不同组织密度的分辨率;空间分辨率决定了分辨组织精细结构的能力。平面探测器的成像能力可以通过量子探测效率和空间分辨率来评价。
(1)影响平板探测仪器量子探测效率的因素
在间接转换平板探测仪器中,影响量子探测效率的主要因素有两个:将可见光转换为电信号的介质以及闪烁体或荧光粉层。闪烁体或磷光层的材料和工艺影响x射线转化为可见光的能力,因此会影响DQE。②将可见光转换为电信号也会影响DQE。
(2)影响平板探测仪器空间分辨率的因素
在直接转换平板探测仪器中,空间分辨率取决于每单位面积的薄膜晶体管矩阵的大小。平板探测仪器矩阵越大,平板探测仪器里面的薄膜晶体管数量越多,所以其空间分辨率越高。
在间接转换平板探测仪器中,由于散射现象,其空间分辨率主要看薄膜晶体管矩阵单位面积的大小,还有散射光的控制技术。因此,间接转换板探测器的空间分辨率低于直接转换板探测器。
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